●半导体IC电性测试用
●支持多种规格IC 精密设计
●合用于IC职能测试,靠得住度测试,直流测试及老化测试 ●轻型化与精密设计 ●良好的热传输效能
●宽泛兼容于各自动化测试机台
●简易的手动装置测试